In-Column Backscattered Electron Microscopy for a Rapid Identification of the Number of Layers in MoS 2 Nanosheets: Implications for Electronic and Optoelectronic Devices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	ACS applied nano materials 2024-01, Vol.7 (1), p.153-162
Hauptverfasser:	Sharbidre, Rakesh S., Narute, Prashant, Byen, Ji Cheol, Kim, Doyeon, Park, Jaesung, Park, Byong Chon, Hong, Seong-Gu
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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