High-Performance Thin-Film Transistors with an Atomic-Layer-Deposited Indium Gallium Oxide Channel: A Cation Combinatorial Approach
The effect of gallium (Ga) concentration on the structural evolution of atomic-layer-deposited indium gallium oxide (IGO) (In1–x Ga x O) films as high-mobility n-channel semiconducting layers was investigated. Different Ga concentrations in 10–13 nm thick In1–x Ga x O films allowed versatile phase s...
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Veröffentlicht in: | ACS applied materials & interfaces 2020-11, Vol.12 (47), p.52937-52951 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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