Epitaxial Thin Film Growth of Europium Dihydride
This paper reports the epitaxial growth of EuH2 thin films with an ω-scan full width at half-maximum of 0.07°, the smallest value for metal hydride thin films reported so far. The thin films were deposited on yttria-stabilized ZrO2 (111) substrates using reactive magnetron sputtering. The magnetizat...
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Veröffentlicht in: | Crystal growth & design 2020-09, Vol.20 (9), p.5903-5907 |
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Hauptverfasser: | , , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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