A wavelet-based method for multifractal image analysis. I. Methodology and test applications on isotropic and anisotropic random rough surfaces

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:The European physical journal. B, Condensed matter physics Condensed matter physics, 2000-06, Vol.15 (3), p.567-600
Hauptverfasser: Arnéodo, A., Decoster, N., Roux, S.G.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1434-6028
DOI:10.1007/s100510051161