Molecular structure and thickness of highly oriented poly(tetrafluoroethylene) films measured by atomic force microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of materials science 1993-03, Vol.28 (5), p.1372-1376
Hauptverfasser:	DIETZ, P, HANSMA, P. K, IHN, K. J, MOTAMEDI, F, SMITH, P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Exact sciences and technology Forms of application and semi-finished materials Polymer industry, paints, wood Sheets and films Technology of polymers
Online-Zugang:	Volltext
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