The possibility of using a semiconductor thermal probe to investigate the power flow distribution in waveguides

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Radiophysics and quantum electronics 1968-02, Vol.11 (2), p.176-179
Hauptverfasser: Kotosonov, N. V., Vlasov, B. I.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0033-8443
1573-9120
DOI:10.1007/BF01089365