Glass Surface Atomic Structure after Technological Treatments

Ultrasoft X-ray reflectometry was used to estimate the effects of surface technological treatments (mechanical and chemical polishing, laser annealing) on the atomic short-range order coordination of silicon atoms in the near-surface region of SiO 2-based glass. The fine structure of reflection spec...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of colloid and interface science 1995-02, Vol.169 (2), p.361-364
Hauptverfasser:	Filatova, E.O., Shulakov, A.S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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