A new SR-TXRF vacuum chamber for ultra-trace analysis at HASYLAB, Beamline L

A new vacuum chamber for synchrotron radiation‐induced total reflection x‐ray fluorescence (SR‐TXRF) analysis has been installed at HASYLAB, DESY, Hamburg, beamline L utilizing the translation and rotation stages of the regular microfocus setup for adjustment. The chamber is equipped with an automat...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	X-ray spectrometry 2005-09, Vol.34 (5), p.451-455
Hauptverfasser:	Streli, C., Pepponi, G., Wobrauschek, P., Jokubonis, C., Falkenberg, G., Zaray, G.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical chemistry Chemistry Exact sciences and technology Spectrometric and optical methods
Online-Zugang:	Volltext
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