AES depth profiling of passive overlayers formed on nickel alloys

Depth profiling analysis of passive films grown on the surface of two nickel‐based alloys (Inconel 600 and Hastelloy C4) in NaCl media was carried out using Auger electron spectroscopy (AES) and ion sputtering. Improvement to the sequential sputtering model of Hofmann (1976) should be performed when...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Surface and interface analysis 1990-07, Vol.16 (1-12), p.325-330
Hauptverfasser:	Lorang, G., Jallerat, N., Quang, K. Vu, Langeron, J.-P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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