Edge effects and image contrast in scanning Auger microscopy: A theory/experiment comparison
The contribution of surface roughness to the artefacts present in images and line‐scans from Scanning Auger Microscopes have been explored by Monte Carlo modelling and by experiment. The samples chosen for these studies are metal lines with sharp rectangular cross‐sections deposited upon silicon sub...
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Veröffentlicht in: | Surface and interface analysis 1988-03, Vol.11 (5), p.251-265 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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