A new free-space method for measurement of electromagnetic parameters of biaxial materials at microwave frequencies
A free‐space method for the measurement of biaxial material is proposed in this paper. Four complex transverse constitutive parameters are directly computed from the reflection and transmission coefficients of a planar sample in free space for the normally incident plane wave with two polarizations....
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Veröffentlicht in: | Microwave and optical technology letters 2005-07, Vol.46 (1), p.72-78 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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