A Novel High‐Speed Ultralow Power Double‐Node‐Upsets Tolerant Automotive Latch Design

This paper introduces a novel High‐speed Ultralow power Double‐Node Upsets (DNU) Tolerant Automotive Latch (HUDTAL) fabricated in the 55‐nm CMOS technology. Through the integration of Muller‐C‐Element (MCE), Node‐Hardened MCE, CLK‐Gating MCE (CG‐MCE), and Transmission Gate techniques, the proposed l...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of circuit theory and applications 2024-12
Hauptverfasser:	Qiu, Guoji, Bi, Dawei, Hu, Zhiyuan, Zhang, Zhengxuan
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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