Sensivity of positron defect detection of surface layers

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Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Crystal research and technology (1979) 1988-03, Vol.23 (3), p.427-430
Hauptverfasser:	Arifov, P. U., Shevchenko, A. V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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