Highly Sensitive, Affordable, and Adaptable Refractive Index Sensing with Silicon‐Based Dielectric Metasurfaces

A sensing platform is presented that uses dielectric Huygens source metasurfaces to measure refractive index changes in a microfluidic channel with experimentally measured sensitivity of 323 nm RIU−1, a figure of merit (FOM) of 5.4, and a response of 8.2 (820%) change in transmittance per refractive...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials technologies 2019-02, Vol.4 (2), p.n/a
Hauptverfasser: Ollanik, Adam J., Oguntoye, Isaac O., Hartfield, George Z., Escarra, Matthew D.
Format: Artikel
Sprache:eng
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