典型空间用介质材料表面充电特性研究
当航天器的表面介质材料受空间等离子体影响时,电荷会积累在介质材料表面,从而导致航天器表面充电现象的产生,这会对航天器的正常运行造成严重影响.因此,在地面上进行典型介质材料表面充电特性的研究具有重要意义.利用航天器材料表面带电地面模拟实验系统,对航天器的常用介质材料聚酰亚胺和环氧树脂进行辐照实验.实验结果表明:不同种类介质材料在同一辐照条件下充电电位不同,但充电规律相似;在相同电子能量下,束流密度越高,介质材料充电速率越快,平衡电位越大;相同束流密度条件下,电子能量越高,介质材料的平衡电位也随之增大....
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | 军械工程学院学报 2016 (6), p.29-33 |
---|---|
1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | chi |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | 33 |
---|---|
container_issue | 6 |
container_start_page | 29 |
container_title | 军械工程学院学报 |
container_volume | |
creator | 苏泉圣 张希军 原青云 |
description | 当航天器的表面介质材料受空间等离子体影响时,电荷会积累在介质材料表面,从而导致航天器表面充电现象的产生,这会对航天器的正常运行造成严重影响.因此,在地面上进行典型介质材料表面充电特性的研究具有重要意义.利用航天器材料表面带电地面模拟实验系统,对航天器的常用介质材料聚酰亚胺和环氧树脂进行辐照实验.实验结果表明:不同种类介质材料在同一辐照条件下充电电位不同,但充电规律相似;在相同电子能量下,束流密度越高,介质材料充电速率越快,平衡电位越大;相同束流密度条件下,电子能量越高,介质材料的平衡电位也随之增大. |
format | Article |
fullrecord | <record><control><sourceid>chongqing</sourceid><recordid>TN_cdi_chongqing_primary_74887166504849544854484855</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><cqvip_id>74887166504849544854484855</cqvip_id><sourcerecordid>74887166504849544854484855</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-chongqing_primary_748871665048495448544848553</originalsourceid><addsrcrecordid>eNpjYeA0NDCw0DWyNDXjYOAtLs5MMjA1NDY3MDCy4GQwftq64-m87ucrd72cvuX5lBVPdne_2LLi2dwJz6bNfLFwxcu5i562tj6fsvV5585nDcufL5jyfOU2HgbWtMSc4lReKM3NYOzmGuLsoZuckZ-XXpiZlx5fUJSZm1hUGW9uYmFhbmhmZmpgYmFiaWpiYgHCQNLUmDxdABo6TD8</addsrcrecordid><sourcetype>Publisher</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>article</recordtype></control><display><type>article</type><title>典型空间用介质材料表面充电特性研究</title><source>Alma/SFX Local Collection</source><creator>苏泉圣 张希军 原青云</creator><creatorcontrib>苏泉圣 张希军 原青云</creatorcontrib><description>当航天器的表面介质材料受空间等离子体影响时,电荷会积累在介质材料表面,从而导致航天器表面充电现象的产生,这会对航天器的正常运行造成严重影响.因此,在地面上进行典型介质材料表面充电特性的研究具有重要意义.利用航天器材料表面带电地面模拟实验系统,对航天器的常用介质材料聚酰亚胺和环氧树脂进行辐照实验.实验结果表明:不同种类介质材料在同一辐照条件下充电电位不同,但充电规律相似;在相同电子能量下,束流密度越高,介质材料充电速率越快,平衡电位越大;相同束流密度条件下,电子能量越高,介质材料的平衡电位也随之增大.</description><identifier>ISSN: 1008-2956</identifier><language>chi</language><subject>聚酰亚胺;环氧树脂;充电电位;电子能量;束流密度</subject><ispartof>军械工程学院学报, 2016 (6), p.29-33</ispartof><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Uhttp://image.cqvip.com/vip1000/qk/82656X/82656X.jpg</thumbnail><link.rule.ids>314,780,784,4022</link.rule.ids></links><search><creatorcontrib>苏泉圣 张希军 原青云</creatorcontrib><title>典型空间用介质材料表面充电特性研究</title><title>军械工程学院学报</title><addtitle>Journal of Ordnance Engineering College</addtitle><description>当航天器的表面介质材料受空间等离子体影响时,电荷会积累在介质材料表面,从而导致航天器表面充电现象的产生,这会对航天器的正常运行造成严重影响.因此,在地面上进行典型介质材料表面充电特性的研究具有重要意义.利用航天器材料表面带电地面模拟实验系统,对航天器的常用介质材料聚酰亚胺和环氧树脂进行辐照实验.实验结果表明:不同种类介质材料在同一辐照条件下充电电位不同,但充电规律相似;在相同电子能量下,束流密度越高,介质材料充电速率越快,平衡电位越大;相同束流密度条件下,电子能量越高,介质材料的平衡电位也随之增大.</description><subject>聚酰亚胺;环氧树脂;充电电位;电子能量;束流密度</subject><issn>1008-2956</issn><fulltext>true</fulltext><rsrctype>article</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>article</recordtype><recordid>eNpjYeA0NDCw0DWyNDXjYOAtLs5MMjA1NDY3MDCy4GQwftq64-m87ucrd72cvuX5lBVPdne_2LLi2dwJz6bNfLFwxcu5i562tj6fsvV5585nDcufL5jyfOU2HgbWtMSc4lReKM3NYOzmGuLsoZuckZ-XXpiZlx5fUJSZm1hUGW9uYmFhbmhmZmpgYmFiaWpiYgHCQNLUmDxdABo6TD8</recordid><startdate>2016</startdate><enddate>2016</enddate><creator>苏泉圣 张希军 原青云</creator><scope>2RA</scope><scope>92L</scope><scope>CQIGP</scope><scope>~WA</scope></search><sort><creationdate>2016</creationdate><title>典型空间用介质材料表面充电特性研究</title><author>苏泉圣 张希军 原青云</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-chongqing_primary_748871665048495448544848553</frbrgroupid><rsrctype>articles</rsrctype><prefilter>articles</prefilter><language>chi</language><creationdate>2016</creationdate><topic>聚酰亚胺;环氧树脂;充电电位;电子能量;束流密度</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>苏泉圣 张希军 原青云</creatorcontrib><collection>中文科技期刊数据库</collection><collection>中文科技期刊数据库-CALIS站点</collection><collection>中文科技期刊数据库-7.0平台</collection><collection>中文科技期刊数据库- 镜像站点</collection><jtitle>军械工程学院学报</jtitle></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext</fulltext></delivery><addata><au>苏泉圣 张希军 原青云</au><format>journal</format><genre>article</genre><ristype>JOUR</ristype><atitle>典型空间用介质材料表面充电特性研究</atitle><jtitle>军械工程学院学报</jtitle><addtitle>Journal of Ordnance Engineering College</addtitle><date>2016</date><risdate>2016</risdate><issue>6</issue><spage>29</spage><epage>33</epage><pages>29-33</pages><issn>1008-2956</issn><abstract>当航天器的表面介质材料受空间等离子体影响时,电荷会积累在介质材料表面,从而导致航天器表面充电现象的产生,这会对航天器的正常运行造成严重影响.因此,在地面上进行典型介质材料表面充电特性的研究具有重要意义.利用航天器材料表面带电地面模拟实验系统,对航天器的常用介质材料聚酰亚胺和环氧树脂进行辐照实验.实验结果表明:不同种类介质材料在同一辐照条件下充电电位不同,但充电规律相似;在相同电子能量下,束流密度越高,介质材料充电速率越快,平衡电位越大;相同束流密度条件下,电子能量越高,介质材料的平衡电位也随之增大.</abstract></addata></record> |
fulltext | fulltext |
identifier | ISSN: 1008-2956 |
ispartof | 军械工程学院学报, 2016 (6), p.29-33 |
issn | 1008-2956 |
language | chi |
recordid | cdi_chongqing_primary_74887166504849544854484855 |
source | Alma/SFX Local Collection |
subjects | 聚酰亚胺 环氧树脂 充电电位 电子能量 束流密度 |
title | 典型空间用介质材料表面充电特性研究 |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-09T20%3A55%3A27IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-chongqing&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.genre=article&rft.atitle=%E5%85%B8%E5%9E%8B%E7%A9%BA%E9%97%B4%E7%94%A8%E4%BB%8B%E8%B4%A8%E6%9D%90%E6%96%99%E8%A1%A8%E9%9D%A2%E5%85%85%E7%94%B5%E7%89%B9%E6%80%A7%E7%A0%94%E7%A9%B6&rft.jtitle=%E5%86%9B%E6%A2%B0%E5%B7%A5%E7%A8%8B%E5%AD%A6%E9%99%A2%E5%AD%A6%E6%8A%A5&rft.au=%E8%8B%8F%E6%B3%89%E5%9C%A3%20%E5%BC%A0%E5%B8%8C%E5%86%9B%20%E5%8E%9F%E9%9D%92%E4%BA%91&rft.date=2016&rft.issue=6&rft.spage=29&rft.epage=33&rft.pages=29-33&rft.issn=1008-2956&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cchongqing%3E74887166504849544854484855%3C/chongqing%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rft_cqvip_id=74887166504849544854484855&rfr_iscdi=true |