Pressure-Induced Metallization and Electrical Phase Diagram for Polycrystalline CaB6 under High Pressure and Low Temperature

The electrical properties of polycrystaltine CaB6 are revealed by in-situ resistance measurements under high pressure and low temperature. Due to the existence of grain boundaries, polycrystalline CaB6 behaves with semiconducting transport properties, which is different from the semimetallic CaB6 si...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	中国物理快报：英文版 2016-08 (8), p.88-90
1. Verfasser:	杨洁 焦阳 韩永昊 李晶
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Low 半金属 多晶 电学性能 电阻测量 相位图 输运性质 高压力
Online-Zugang:	Volltext
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