Moire patterns and step edges on few-layer graohene grown on nickel films

Few-layer graphene grown on Ni thin films has been studied by scanning tunneling microscopy. In most areas on the surfaces, moir6 patterns resulted from rotational stacking faults were observed. At a bias lower than 200 mV, only one sublattice shows up in regions without moir6 patterns while both su...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	中国物理B：英文版 2014 (11), p.445-449
1. Verfasser:	柯芬 尹秀丽 佟鼐 林陈昉 刘楠 赵汝光 付磊 刘忠范 胡宗海
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	云纹 台阶 图案 堆垛层错 扫描隧道显微镜 散射特性 生长 镍片
Online-Zugang:	Volltext
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