利用夹角余弦和聚类分析的电离层TEC混沌预测
利用120°E、45°N上空的2008年年积日101～150d时间段内共600个电离层格网TEC数据，分析了该点上空电离层TEC参数的混沌特性，发现其关联维数为2．2632，嵌入维数m=5，最大Lyapunov指数为0．0833，该TEC时间序列具有混沌的特征，存在混沌现象。利用加权一阶局域法对TEC时间序列进行预测时，提出了利用夹角余弦和聚类分析方法对相似相点进行选择的方法，结果表明，在5维相空间中，该方法除在第4分向量略不及欧氏距离和夹角余弦方法外，其余4个分向量均优于后两种方法。利用该方法选择的相似相点进行一阶局域预测时，得到的标准差STD（0．618TECU）和RMS（0．623TEC...
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| Veröffentlicht in: | 武汉大学学报：信息科学版 2014, Vol.39 (4), p.441-444 |
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| 1. Verfasser: | |
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| Sprache: | chi |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
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| creator | 孙佳龙 郭金运 郭淑艳 |
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