Optical study of Ba（MnxTi1-x）O3） thin films by spectroscopic ellipsometry

Stoichiometric Ba（MnxTi（1-x）O3） （BMT） thin films with various values of x were deposited on Si（111） substrates by the sol-gel technique. The influence of Mn content on the optical properties was studied by spectroscopic ellipsometry （SE） in the UV–Vis–NIR region. By fitting the measured ellipsometri...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	中国物理B：英文版 2013 (11), p.589-593
1. Verfasser:	张婷 殷江 丁玲红 张伟风
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	BMT n含量 Si（111）衬底 光学性能 凝胶技术 化学计量 椭圆偏振光谱 薄膜
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