STUDY OF HYDROGEN IN ANNEALED AMORPHOUS SILICON AND IMPLANTED AMORPHOUS CARBON
Hydrogen contents and its depth profiles, obtained by nuclear reaction induced by fluorine ion, have been investigated for a series of thermal annealed amorphous silicon and implanted amorphous carbon (diamond-like carbon) films. For dual layer amorphous silicon films, it is shown that hydrogen of e...
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Veröffentlicht in: | 核技术:英文版 1990 (Z1), p.117-120 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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