Effects of pattern characteristics on the copper electroplating processt
The non-planarity of a surface post electroplating process is usually dependent on variations of key layout characteristics including line width, line spacing and metal density. A test chip is designed and manufactured in a semiconductor foundry to test the layout dependency of the electroplating pr...
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Veröffentlicht in: | 半导体学报 2011, Vol.32 (5), p.130-133 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | chi |
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Online-Zugang: | Volltext |
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