Analytical charge control model for AlGaN/GaN MIS-HFETs including an undepleted barrier layer

An analytical charge control model considering the insulator/AlGaN interface charge and undepleted Al-GaN barrier layer is presented for AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor heterostructure field effect transistors (MIS-HFETs) over the entire operation range of gate voltage.The whole process of c...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of semiconductors 2010-09, Vol.31 (9), p.25-31
1. Verfasser: 卢盛辉 杜江锋 罗谦 于奇 周伟 夏建新 杨漠华
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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