Effect of inelastic ion collisions on low-gain avalanche detectors explained by an A_Si-Si_i-defect mode

The acceptor removal phenomenon (ARP), which hampers the functionality of low-gain avalanche detectors (LGAD), is discussed in frame of the A_Si-Si_i-defect model. The assumption of fast diffusion of interstitial silicon is shown to be superfluous for the explanation of the B_Si-Si_i-defect formatio...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Lauer, Kevin, Reiß, Stephanie, Flötotto, Aaron, Peh, Katharina, Bratek, Dominik, Müller, Robin, Schulze, Dirk, Beenken, Wichard, Hiller, Erik, Ortlepp, Thomas, Krischok, Stefan
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Physics - Instrumentation and Detectors
Online-Zugang:	Volltext bestellen
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