High-precision FoM measurement setup for Ti:Sapphire crystals

The figure of merit (FoM) of Ti:Sapphire (Ti:Sa) crystals is a generally used means to evaluate the quality of the crystals. Despite the importance of Ti:Sa, the question of FoM measurement precision stayed out of focus, while the commercially available spectrometers provide unsatisfactory 3-sigma p...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	arXiv.org 2023-01
Hauptverfasser:	Miller, Vojtech, Zidek, Karel
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Crystals Figure of merit Inhomogeneity Physics - Materials Science Physics - Optics Sapphire Semiconductor lasers Spectrometers YAG lasers
Online-Zugang:	Volltext
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