Investigation of the SiO2-SiC interface using low energy muon spin rotation spectroscopy

Using positive muons as local probes implanted at low energy enables gathering information about the material of interest with nanometer depth resolution (low energy muon spin rotation spectroscopy (LE-$\mu$SR). In this work, we leverage the capabilities of LE-$\mu$SR to perform an investigation of...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kumar, Piyush, Martins, Maria Inês Mendes, Bathen, Marianne Etzelmüller, Woerle, Judith, Prokscha, Thomas, Grossner, Ulrike
Format: Artikel
Sprache:eng
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