The anisotropy in the optical constants of quartz crystals for soft X-rays

The refractive index of a y-cut SiO\(_2\) crystal surface is reconstructed from polarization dependent soft X-ray reflectometry measurements in the energy range from 45 eV to 620 eV. Due to the anisotropy of the crystal structure in the (100) and (001) directions, we observe a significant deviation...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	arXiv.org 2020-10
Hauptverfasser:	Andrle, A, Hönicke, P, Vinson, J, Quintanilha, R, Saadeh, Q, Heidenreich, S, Scholze, F, Soltwisch, V
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Anisotropy Bethe-Salpeter equation Crystal structure Crystal surfaces Crystals Physics - Materials Science Physics - Optics Quartz Quartz crystals Reflectometry Refractivity Soft x rays
Online-Zugang:	Volltext
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