Suchergebnisse - von Jeinsen, Nick A.

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3D surface profilometry using neutral helium atoms von Radić, Aleksandar, Lambrick, Sam M., von Jeinsen, Nick A., Jardine, Andrew P., Ward, David J.

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$2D Helium Atom Diffraction from a Microscopic Spot$

2D Helium Atom Diffraction from a Microscopic Spot von von Jeinsen, Nick A, Lambrick, Sam M, Bergin, Matthew, Radić, Aleksandar, Liu, Boyao, Seremet, Dan, Jardine, Andrew P, Ward, David J

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3D surface profilometry using neutral helium atoms von Radic, Aleksandar, Lambrick, Sam M, von Jeinsen, Nick A, Jardine, Andrew P, Ward, David J

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A multi-detector neutral helium atom microscope von Zhao, Chenyang, Lambrick, Sam M, von Jeinsen, Nick A, Yuan, Yanke, Zhang, Xiaolong, Radić, Aleksandar, Ward, David J, Ellis, John, Jardine, Andrew P

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$2D Helium Atom Diffraction from a Microscopic Spot$

2D Helium Atom Diffraction from a Microscopic Spot von von Jeinsen, Nick A, Lambrick, Sam M, Bergin, Matthew, Radić, Aleksandar, Liu, Boyao, Seremet, Dan, Jardine, Andrew P, Ward, David J

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Research data supporting "3D surface profilometry using neutral helium atom" von Radić, Aleksandar, Lambrick, Sam M, Ward, David J, Von Jeinsen, Nick A, Jardine, Andrew P

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$Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials$

Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials von von Jeinsen, Nick, Radic, Aleksandar, Wang, Ke, Zhao, Chenyang, Perez, Vivian, Zhu, Yiru, Chhowalla, Manish, Jardine, Andrew, Ward, David, Lambrick, Sam

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$Defect density quantification in monolayer MoS2 using helium atom micro-diffraction$

Defect density quantification in monolayer MoS2 using helium atom micro-diffraction von Radic, Aleksandar, von Jeinsen, Nick, Wang, Ke, Zhu, Yiru, Sami, Ismail, Perez, Vivian, Ward, David, Jardine, Andrew, Chhowalla, Manish, Lambrick, Sam

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$Defect density quantification in monolayer MoS2 using helium atom micro-diffraction$

Defect density quantification in monolayer MoS2 using helium atom micro-diffraction von Radic, Aleksandar, Nick von Jeinsen, Wang, Ke, Zhu, Yiru, Ismail, Sami, Perez, Vivian, Ward, David, Jardine, Andrew, Chhowalla, Manish, Lambrick, Sam

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$Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials$

Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials von Nick von Jeinsen, Radic, Aleksandar, Wang, Ke, Zhao, Chenyang, Perez, Vivian, Zhu, Yiru, Chhowalla, Manish, Jardine, Andrew, Ward, David, Lambrick, Sam

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$Dataset Supporting '2D helium atom diffraction from a microscopic spot'$

Dataset Supporting '2D helium atom diffraction from a microscopic spot' von Lambrick, Sam, Von Jeinsen, Nick, Bergin, Matthew, Radic, Aleksandar, Liu, Boyao, Sermet, Dan, Jardine, Andrew, Ward, David

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$Dataset Supporting '2D helium atom diffraction from a microscopic spot'$

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3D surface profilometry using neutral helium atoms von Radić, Aleksandar, Lambrick, Sam M., von Jeinsen, Nick A., Jardine, Andrew P., Ward, David J.

2D Helium Atom Diffraction from a Microscopic Spot von von Jeinsen, Nick A, Lambrick, Sam M, Bergin, Matthew, Radić, Aleksandar, Liu, Boyao, Seremet, Dan, Jardine, Andrew P, Ward, David J

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Defect density quantification in monolayer MoS2 using helium atom micro-diffraction von Radic, Aleksandar, von Jeinsen, Nick, Wang, Ke, Zhu, Yiru, Sami, Ismail, Perez, Vivian, Ward, David, Jardine, Andrew, Chhowalla, Manish, Lambrick, Sam

Defect density quantification in monolayer MoS2 using helium atom micro-diffraction von Radic, Aleksandar, Nick von Jeinsen, Wang, Ke, Zhu, Yiru, Ismail, Sami, Perez, Vivian, Ward, David, Jardine, Andrew, Chhowalla, Manish, Lambrick, Sam

Helium atom micro-diffraction as a characterisation tool for 2D materials von Nick von Jeinsen, Radic, Aleksandar, Wang, Ke, Zhao, Chenyang, Perez, Vivian, Zhu, Yiru, Chhowalla, Manish, Jardine, Andrew, Ward, David, Lambrick, Sam

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