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1
Yield Impact of Backside Metal-Ion Contamination
von
Carey, Stephen
,
Boersma, Johannes
,
Gerritzen, Wim
,
van der Sar, Elfried
,
van Zadelhoff, Hans
,
Cop, Robbert
,
Ooms, Eric
,
Knotter, D. Martin
,
Bouma, Henk
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A Robust Thin-Film Wafer-Level Packaging Approach for MEMS Devices
von
Seetharaman, Krishnan
,
van Velzen, Bart
,
van Wingerden, Johannes
,
van Zadelhoff, Hans
,
Yuan, Cadmus
,
Rietveld, Frank
,
Tak, Coen
,
van Beek, Joost
,
Magnée, Peter H.C.
,
Beijerinck, Herman C.W.
Veröffentlicht in
Journal of microelectronics and electronic packaging
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3
A Robust Thin-Film Wafer-Level Packaging Approach for MEMS Devices: Revised and selected papers from the IMAPS 6th Annual International Conference on Device Packaging, Fountain Hil...
von
SEETHARAMAN, Krishnan
,
VAN VELZEN, Bart
,
VAN WINGERDEN, Johannes
,
VAN ZADELHOFF, Hans
,
YUAN, Cadmus
,
RIETVELD, Frank
,
TAK, Coen
,
VAN BEEK, Joost
,
MAGNEE, Peter H. C
,
BEIJERINCK, Herman C. W
Veröffentlicht in
Journal of microelectronics and electronic packaging
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VAN ZADELHOFF HANS
,
VERHEIJDEN GREJA JOHANNA ADRIANA MARIA
,
VAN VELZEN BART
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VAN ZADELHOFF HANS
,
VAN VELZEN BART
,
VERHEIJDEN GREJA
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VAN ZADELHOFF, HANS
,
VERHEIJDEN, GREJA, J.A.M
,
VELZEN, BART VAN
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VAN ZADELHOFF, HANS
,
VERHEIJDEN, GREJA, JOHANNA , ADRIANA, MARIA
,
VAN VELZEN, BART
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VAN ZADELHOFF HANS
,
VERHEIJDEN GREJA JOHANNA ADRIANA MARIA
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VAN VELZEN BART
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Journal Of Microelectronics And Electronic Packaging
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Electric Solid State Devices Not Otherwise Provided For
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Electricity
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Esp@Cenet
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Proquest Central Uk/Ireland
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Proquest Central
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Proquest One Community College
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Scientific.net Journals
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