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1
Real-time displacement measurement using a multicamera phase-stepping speckle interferometer
von
van Haasteren, Arjan J. P.
,
Frankena, Hans J.
Veröffentlicht in
Applied Optics
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Modeling and characterization of an electrooptic polarization controller on LiNbO3
von
VAN HAASTEREN, A. J. P
,
VAN DER TOL, J. J. G. M
,
VAN DEVENTER, M. O
,
FRANKENA, H. J
Veröffentlicht in
Journal of lightwave technology
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