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    Risk modeling in distributed, large-scale systems von Grabowski, M., Merrick, J.R.W., Harrold, J.R., Massuchi, T.A., van Dorp, J.D.


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    Electron beam deposition for nanofabrication: Insights from surface science

    Electron beam deposition for nanofabrication: Insights from surface science von Wnuk, J.D., Rosenberg, S.G., Gorham, J.M., van Dorp, W.F., Hagen, C.W., Fairbrother, D.H.

    Veröffentlicht in Surface science

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    Barend & Van Dorp 22/10/2001

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