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Fabrication of a CMOS-based Imaging Chip with Monolithically Integrated RGB and NIR Filters
Veröffentlicht in Proceedings
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Dielectric reliability of 70nm pitch air-gap interconnect structures
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Dielectric reliability of 70 nm pitch air-gap interconnect structures
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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