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Maayan, E.
,
Dvir, R.
,
Shor, J.
,
Polansky, Y.
,
Sofer, Y.
,
Bloom, I.
,
Avni, D.
,
Eitan, B.
,
Cohen, Z.
,
Meyassed, M.
,
Alpern, Y.
,
Palm, H.
,
v Kamienski, E.S.
,
Haibach, P.
,
Caspary, D.
,
Riedel, S.
,
Knofler, R.
Veröffentlicht in
2002 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37315)
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