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Suchergebnisse - Zywotko, David R
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Thermal Atomic Layer Etching of ZnO by a “Conversion-Etch” Mechanism Using Sequential Exposures of Hydrogen Fluoride and Trimethylaluminum
von
Zywotko, David R
,
George, Steven M
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Chemistry of materials
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ZrO2 Monolayer as a Removable Etch Stop Layer for Thermal Al2O3 Atomic Layer Etching Using Hydrogen Fluoride and Trimethylaluminum
von
Zywotko, David R
,
Zandi, Omid
,
Faguet, Jacques
,
Abel, Paul R
,
George, Steven M
Veröffentlicht in
Chemistry of materials
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Rapid atomic layer etching of Al2O3 using sequential exposures of hydrogen fluoride and trimethylaluminum with no purging
von
Zywotko, David R.
,
Faguet, Jacques
,
George, Steven M.
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films
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Limiting or Continuous Thermal Etching of First Row Transition Metal Oxides Using Acetylacetone and Ozone
von
Partridge, Jonathan L.
,
Abdulagatov, Aziz I.
,
Zywotko, David R.
,
George, Steven M.
Veröffentlicht in
Chemistry of materials
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5
ZrO 2 Monolayer as a Removable Etch Stop Layer for Thermal Al 2 O 3 Atomic Layer Etching Using Hydrogen Fluoride and Trimethylaluminum
von
Zywotko, David R.
,
Zandi, Omid
,
Faguet, Jacques
,
Abel, Paul R.
,
George, Steven M.
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Chemistry of materials
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