Treffer
1 - 6
von
6
für Suche '
Zwemer, Dirk Adrian
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Zwemer, Dirk Adrian
Treffer
1 - 6
von
6
für Suche '
Zwemer, Dirk Adrian
'
, Suchdauer: 0,67s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples
von
PETRICCIONE GREGORY JAMES
,
MCCARRON SEAN PATRICK
,
ZWEMER DIRK ADRIAN
,
PAN JIAHUI
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples
von
Zwemer, Dirk Adrian
,
Pan, Jiahui
,
Petriccione, Gregory James
,
McCarron, Sean Patrick
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples
von
PETRICCIONE GREGORY JAMES
,
MCCARRON SEAN PATRICK
,
ZWEMER DIRK ADRIAN
,
PAN JIAHUI
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
4
SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING SAMPLE SURFACE FLATNESS OF CONTINUOUSLY MOVING SAMPLES
von
ZWEMER, DIRK, ADRIAN
,
PAN, JIAHUI
,
MCCARRON, SEAN, PATRICK
,
PETRICCIONE, GREGORY, JAMES
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
5
SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING SAMPLE SURFACE FLATNESS OF CONTINUOUSLY MOVING SAMPLES
von
ZWEMER, DIRK, ADRIAN
,
PAN, JIAHUI
,
MCCARRON, SEAN, PATRICK
,
PETRICCIONE, GREGORY, JAMES
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
6
Writing information in a display device
von
LIPTON, LEWIS THOMAS
,
NOVOTNY, VLAD JOSEPH
,
ZWEMER, DIRK ADRIAN
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Online Resources
6 Treffer
6
Format
Patents
6 Treffer
6
Schlagworte
Physics
5 Treffer
5
Calculating
4 Treffer
4
Computing
4 Treffer
4
Counting
4 Treffer
4
Image Data Processing Or Generation, In General
4 Treffer
4
Measuring
4 Treffer
4
Measuring Angles
4 Treffer
4
Measuring Areas
4 Treffer
4
Measuring Irregularities Of Surfaces Or Contours
4 Treffer
4
Measuring Length, Thickness Or Similar Lineardimensions
4 Treffer
4
Testing
4 Treffer
4
Advertising
1 Treffer
1
Arrangements For Measuring Two Or More Variables Not Coveredin A Single Other Subclass
1 Treffer
1
Cryptography
1 Treffer
1
Display
1 Treffer
1
Education
1 Treffer
1
Handling Record Carriers
1 Treffer
1
Measuring Not Specially Adapted For A Specific Variable
1 Treffer
1
Measuring Or Testing Not Otherwise Provided For
1 Treffer
1
Presentation Of Data
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
5 Treffer
5
Uspto Issued Patents
1 Treffer
1