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A Novel Read Scheme for Read Disturbance Suppression in 3D NAND Flash Memory
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Investigation of Erase Cycling Induced TSG Vt Shift in 3D NAND Flash Memory
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Dadu-SV: Accelerate Stereo Vision Processing on NPU
Veröffentlicht in IEEE embedded systems letters
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