Lattice Deformation at Submicron Scale: X-Ray Nanobeam Measurements of Elastic Strain in Electron Shuttling Devices von Corley-Wiciak, C., Zoellner, M.H., Zaitsev, I., Anand, K., Zatterin, E., Yamamoto, Y., Corley-Wiciak, A.A., Reichmann, F., Langheinrich, W., Schreiber, L.R., Manganelli, C.L., Virgilio, M., Richter, C., Capellini, G.

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Control of Electron-State Coupling in Asymmetric Ge / Si − Ge Quantum Wells von Ciano, C., Virgilio, M., Montanari, M., Persichetti, L., Di Gaspare, L., Ortolani, M., Baldassarre, L., Zoellner, M.H., Skibitzki, O., Scalari, G., Faist, J., Paul, D.J., Scuderi, M., Nicotra, G., Grange, T., Birner, S., Capellini, G., De Seta, M.

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