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A correction for higher-order refraction in cathodoluminescence spectrometry
von
Stöger-Pollach, Michael
,
Zenz, Keanu
,
Ursin, Felix
,
Schilberg, Johannes
,
Stöger, Leo
Veröffentlicht in
Ultramicroscopy
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2
A statistical approach for characterizing the compressive stress of foams via computed tomography
von
Bleicher, Friedrich
,
Zenz, Keanu
,
Sulz, Clemens
,
Poszvek, Günther
Veröffentlicht in
Procedia CIRP
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3
Important aspects of investigating optical excitations in semiconductors using a scanning transmission electron microscope
von
Stöger‐Pollach, Michael
,
Bukvišova, Krýstina
,
Zenz, Keanu
,
Stöger, Leo
,
Scales, Ze
Veröffentlicht in
Journal of microscopy (Oxford)
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4
Porosity distribution in sub-skin boundary area of the powderbed additively manufactured parts
von
Nikolaev, Dimitrii
,
Yavuz, Ismail Hakki
,
Enzenberger, Lea Rosa
,
Zenz, Keanu
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