Suchergebnisse - Zamiri, Saeid

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Remote photoacoustic imaging on solid material using a two-wave mixing interferometer von BERER, Thomas, HOCHREINER, Armin, ZAMIRI, Saeid, BURGHOLZER, Peter

Veröffentlicht in Optics letters

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Assessing the Application of Coagulation and Flocculation Process in the Physical Treatment of Zoshk Shandiz River Water von Sadegh Ramezanian Bajgiran, Sepehr Delghandi, Saeid Zamiri

Veröffentlicht in محیط زیست و مهندسی آب

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$Laser ultrasonic receivers based on organic photorefractive polymer composites$

Laser ultrasonic receivers based on organic photorefractive polymer composites von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Portenkirchner, Engelbert, Berer, Thomas, Font-Sanchis, Enrique, Burgholzer, Peter, Sariciftci, Niyazi Serdar, Bauer, Siegfried, Fernández-Lázaro, Fernando

Veröffentlicht in Applied physics. B, Lasers and optics

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Fullerene Sensitized Silicon for Near- to Mid-Infrared Light Detection von Matt, Gebhard J., Fromherz, Thomas, Bednorz, Mateusz, Zamiri, Saeid, Goncalves, Guillaume, Lungenschmied, Christoph, Meissner, Dieter, Sitter, Helmut, Sariciftci, N. Serdar, Brabec, Christoph J., Bauer, Günther

Veröffentlicht in Advanced materials (Weinheim)

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$Determination of nanometer vibration amplitudes by using a homodyne photorefractive crystal interferometer$

Determination of nanometer vibration amplitudes by using a homodyne photorefractive crystal interferometer von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Berer, Thomas, Bauer, Siegfried, Burgholzer, Peter

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Surface Acoustic Wave-based Characterization of Randomly Distributed Surface Cracks von Galos, Roland, Veres, István A., Zamiri, Saeid, Korotyaeva, Maria, Wenin, Markus, Burgholzer, Peter

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Laser ultrasonic velocity measurement for phase transformation investigation in titanium alloy von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Grun, Hubert, Roither, Jurgen, Bauer, Siegfried, Burgholzer, Peter

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$Employing 532 nm Wavelength in a Laser Ultrasound Interferometer Based on Photorefractive Polymer Composites$

Employing 532 nm Wavelength in a Laser Ultrasound Interferometer Based on Photorefractive Polymer Composites von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Rodriguez-Rivera, Mario-Alejandro, Ramos-Ortiz, Gabriel, Burgholzer, Peter, Bauer, Siegfried, Maldonado, Jose-Luis

Veröffentlicht in OAlib (Online)

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Method for determining the layer thickness of a connecting layer between two packaging layers von Kornfeld, Martin, Wegenberger, Alfred, Reitinger, Bernhard, Roither, Juergen, Gruensteidl, Clemens, Zamiri, Saeid

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Method for determining the layer thickness of a connecting layer between two packaging layers von Kornfeld, Martin, Wegenberger, Alfred, Reitinger, Bernhard, Grunsteidl, Clemens, Zamiri, Saeid, Roither, Jurgen

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METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von ZAMIRI, Saeid, KORNFELD, Martin, REITINGER, Bernhard, GRÜNSTEIDL, Clemens, ROITHER, Jürgen, WEGENBERGER, Alfred

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METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von ROITHER JUERGEN, REITINGER BERNHARD, KORNFELD MARTIN, WEGENBERGER ALFRED, GRUENSTEIDL CLEMENS, ZAMIRI SAEID

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Method for determining the layer thickness of a connecting layer between two packaging layers von REITINGER, BERNHARD, WEGENBERGER, ALFRED, KORNFELD, MARTIN, ZAMIRI, SAEID, ROITHER, JURGEN, GRUNSTEIDL, CLEMENS

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Design and fabrication of si-based photonic crystal stamps von Jannesari, R., Bergmair, I., Zamiri, S., Hingerl, K.

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METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von ZAMIRI, Saeid, KORNFELD, Martin, REITINGER, Bernhard, GRÜNSTEIDL, Clemens, ROITHER, Jürgen, WEGENBERGER, Alfred

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METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von REITINGER, BERNHARD, WEGENBERGER, ALFRED, KORNFELD, MARTIN, ZAMIRI, SAEID, ROITHER, JÜRGEN, GRÜNSTEIDL, CLEMENS

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METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von REITINGER, BERNHARD, WEGENBERGER, ALFRED, KORNFELD, MARTIN, ZAMIRI, SAEID, ROITHER, JÜRGEN, GRÜNSTEIDL, CLEMENS

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Verfahren zur Ermittlung der Schichtdicke einer Verbindungsschicht zwischen zwei Verpackungsschichten von KORNFELD MARTIN DR, REITINGER BERNHARD, ROITHER JÜRGEN. DR, WEGENBERGER ALFRED DR, GRÜNSTEIDL CLEMENS, ZAMIRI SAEID

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Verfahren zur Ermittlung der Schichtdicke einer Verbindungsschicht zwischen zwei Verpackungsschichten von KORNFELD MARTIN DR, REITINGER BERNHARD, ROITHER JÜRGEN. DR, WEGENBERGER ALFRED DR, GRÜNSTEIDL CLEMENS, ZAMIRI SAEID

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W′ pair production in the light of CMS searches von Mehdiabadi, Saeid Paktinat, Zamiri, Leila

Veröffentlicht in Journal of physics. G, Nuclear and particle physics

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Remote photoacoustic imaging on solid material using a two-wave mixing interferometer von BERER, Thomas, HOCHREINER, Armin, ZAMIRI, Saeid, BURGHOLZER, Peter

Assessing the Application of Coagulation and Flocculation Process in the Physical Treatment of Zoshk Shandiz River Water von Sadegh Ramezanian Bajgiran, Sepehr Delghandi, Saeid Zamiri

Laser ultrasonic receivers based on organic photorefractive polymer composites von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Portenkirchner, Engelbert, Berer, Thomas, Font-Sanchis, Enrique, Burgholzer, Peter, Sariciftci, Niyazi Serdar, Bauer, Siegfried, Fernández-Lázaro, Fernando

Fullerene Sensitized Silicon for Near- to Mid-Infrared Light Detection von Matt, Gebhard J., Fromherz, Thomas, Bednorz, Mateusz, Zamiri, Saeid, Goncalves, Guillaume, Lungenschmied, Christoph, Meissner, Dieter, Sitter, Helmut, Sariciftci, N. Serdar, Brabec, Christoph J., Bauer, Günther

Determination of nanometer vibration amplitudes by using a homodyne photorefractive crystal interferometer von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Berer, Thomas, Bauer, Siegfried, Burgholzer, Peter

Surface Acoustic Wave-based Characterization of Randomly Distributed Surface Cracks von Galos, Roland, Veres, István A., Zamiri, Saeid, Korotyaeva, Maria, Wenin, Markus, Burgholzer, Peter

Laser ultrasonic velocity measurement for phase transformation investigation in titanium alloy von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Grun, Hubert, Roither, Jurgen, Bauer, Siegfried, Burgholzer, Peter

Employing 532 nm Wavelength in a Laser Ultrasound Interferometer Based on Photorefractive Polymer Composites von Zamiri, Saeid, Reitinger, Bernhard, Rodriguez-Rivera, Mario-Alejandro, Ramos-Ortiz, Gabriel, Burgholzer, Peter, Bauer, Siegfried, Maldonado, Jose-Luis

Method for determining the layer thickness of a connecting layer between two packaging layers von Kornfeld, Martin, Wegenberger, Alfred, Reitinger, Bernhard, Roither, Juergen, Gruensteidl, Clemens, Zamiri, Saeid

Method for determining the layer thickness of a connecting layer between two packaging layers von Kornfeld, Martin, Wegenberger, Alfred, Reitinger, Bernhard, Grunsteidl, Clemens, Zamiri, Saeid, Roither, Jurgen

METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von ZAMIRI, Saeid, KORNFELD, Martin, REITINGER, Bernhard, GRÜNSTEIDL, Clemens, ROITHER, Jürgen, WEGENBERGER, Alfred

METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von ROITHER JUERGEN, REITINGER BERNHARD, KORNFELD MARTIN, WEGENBERGER ALFRED, GRUENSTEIDL CLEMENS, ZAMIRI SAEID

Method for determining the layer thickness of a connecting layer between two packaging layers von REITINGER, BERNHARD, WEGENBERGER, ALFRED, KORNFELD, MARTIN, ZAMIRI, SAEID, ROITHER, JURGEN, GRUNSTEIDL, CLEMENS

Design and fabrication of si-based photonic crystal stamps von Jannesari, R., Bergmair, I., Zamiri, S., Hingerl, K.

METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von ZAMIRI, Saeid, KORNFELD, Martin, REITINGER, Bernhard, GRÜNSTEIDL, Clemens, ROITHER, Jürgen, WEGENBERGER, Alfred

METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von REITINGER, BERNHARD, WEGENBERGER, ALFRED, KORNFELD, MARTIN, ZAMIRI, SAEID, ROITHER, JÜRGEN, GRÜNSTEIDL, CLEMENS

METHOD FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS OF A CONNECTING LAYER BETWEEN TWO PACKAGING LAYERS von REITINGER, BERNHARD, WEGENBERGER, ALFRED, KORNFELD, MARTIN, ZAMIRI, SAEID, ROITHER, JÜRGEN, GRÜNSTEIDL, CLEMENS

Verfahren zur Ermittlung der Schichtdicke einer Verbindungsschicht zwischen zwei Verpackungsschichten von KORNFELD MARTIN DR, REITINGER BERNHARD, ROITHER JÜRGEN. DR, WEGENBERGER ALFRED DR, GRÜNSTEIDL CLEMENS, ZAMIRI SAEID

Verfahren zur Ermittlung der Schichtdicke einer Verbindungsschicht zwischen zwei Verpackungsschichten von KORNFELD MARTIN DR, REITINGER BERNHARD, ROITHER JÜRGEN. DR, WEGENBERGER ALFRED DR, GRÜNSTEIDL CLEMENS, ZAMIRI SAEID

W′ pair production in the light of CMS searches von Mehdiabadi, Saeid Paktinat, Zamiri, Leila

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