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    Low-frequency measurement of small delay times with application to microwave transistor measurement

    Low-frequency measurement of small delay times with application to microwave transistor measurement von Zakarevicius, R.A.

    Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE

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  2. 2
    The gate-cathode connection for controlled rectifier stacks

    The gate-cathode connection for controlled rectifier stacks von Zakarevicius, R.A.

    Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE

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  3. 3
    Operational amplifier integrators for the measurement of the delay times of microwave transistors

    Operational amplifier integrators for the measurement of the delay times of microwave transistors von Cohen, D.D., Zakarevicius, R.A.


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