Suchergebnisse - ZAIKE MASAYUKI | OPAC THWS

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CT performance of compact X-ray source with small focal spot using a 950 keV linear accelerator von Matsunaga, Norihito, Sato, Tomoya, Yamada, Atsushi, Zaike, Masayuki, Nikai, Daisuke, Hatano, Tadashi, Yamamoto, Masashi

Veröffentlicht in E-journal of Nondestructive Testing

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2

Development of 950 kV X-ray source with small focal spot using a linear accelerator von Matsunaga, Norihito, Yamada, Atsushi, Zaike, Masayuki, Tsuruya, Toshinori, Nakanishi, Kosuke, Hatano, Tadashi, Yamamoto, Masashi, Suzuki, Kazuaki

Veröffentlicht in E-journal of Nondestructive Testing

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3

Development of Compact X-ray Phase Contrast System using Coded Aperture von Matsunaga, Norihito, Yano, Kazuhiro, Zaike, Masayuki

Veröffentlicht in JSAP Annual Meetings Extended Abstracts

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4

Inspection device, inspection method, and method for producing object to be inspected von Ohbayashi, Takeshi, Zaike, Masayuki, Michimoto, Takahiro

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5

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING OBJECT TO BE INSPECTED von OHBAYASHI, Takeshi, ZAIKE, Masayuki, MICHIMOTO, Takahiro

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6

TWI768027B von MICHIMOTO, TAKAHIRO, OHBAYASHI, TAKESHI, ZAIKE, MASAYUKI

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7

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING OBJECT TO BE INSPECTED von ZAIKE MASAYUKI, MICHIMOTO TAKAHIRO, OHBAYASHI TAKESHI

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8

검사 장치, 검사 방법 및 검사 대상물의 제조 방법 von ZAIKE MASAYUKI, MICHIMOTO TAKAHIRO, OHBAYASHI TAKESHI

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9

Inspection device, inspection method, and method for producing object to be inspected von MICHIMOTO, TAKAHIRO, OHBAYASHI, TAKESHI, ZAIKE, MASAYUKI

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10

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING OBJECT TO BE INSPECTED von OHBAYASHI, Takeshi, ZAIKE, Masayuki, MICHIMOTO, Takahiro

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11

コーデッドアパーチャを用いた小型X線位相コントラスト装置の開発 von 松永, 教仁, 矢野, 和弘, 在家, 正行

Veröffentlicht in 応用物理学会学術講演会講演予稿集

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