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    QUALITY ANALYSIS OF THE GATE DIELECTRIC OF THE MOS-STRUCTURES BY CAPACITY-VOLTAGE CHARACTERISTICS

    QUALITY ANALYSIS OF THE GATE DIELECTRIC OF THE MOS-STRUCTURES BY CAPACITY-VOLTAGE CHARACTERISTICS von V. B. Odzhaev, A. N. Pyatlitski, V. S. Prosolovich, V. A. Filipenya, S. V. Shvedau, V. V. Chernyi, V. Yu. Yavid, Yu. N. Yankouski

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