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Hard x-ray Zernike microscopy reaches 30 nm resolution
Veröffentlicht in Optics letters
VolltextArtikel -
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Full-field hard x-ray microscopy below 30 nm: a challenging nanofabrication achievement
Veröffentlicht in Nanotechnology
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Full-field hard x-ray microscopy below 30nm: a challenging nanofabrication achievement
Veröffentlicht in Nanotechnology
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