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Microdose Induced Drain Leakage Effects in Power Trench MOSFETs: Experiment and Modeling
von
Zebrev, Gennady I.
,
Vatuev, Alexander S.
,
Useinov, Rustem G.
,
Emeliyanov, Vladimir V.
,
Anashin, Vasily S.
,
Gorbunov, Maxim S.
,
Turin, Valentin O.
,
Yesenkov, Kirill A.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on nuclear science
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