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Analysis of Applicability for Synchronization Complexity Metric
von
Yastrebenetsky, P.
,
Trakhtenbrot, M.
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CONTACT FORMATION FOR A MEMORY DEVICE
von
Clampitt, Darwin A
,
Good, Farrell M
,
Yastrebenetsky, Kolya
,
Turini, Steven P
,
Russell, Stephen W
,
Zhao, Zhao
,
Vora, Nirav
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Esp@Cenet
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Ieee Electronic Library (Iel)
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