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APMP international comparison of AC-DC transfer standards at the lowest attainable level of uncertainty von Budovsky, I., Abidin, A.R.B.Z., Yan, A.Y.K., LingXiang Liu, Rustagi, V.K., Govil, A.K., Klonz, M., Yih-cheng Wei, Early, M.D., Sasaki, H., Fujiki, H., Kumtawee, C., Charoensook, A., Sung-Won Kwon, Son, N.A., Suprianto, B., Temba, M., Ruiz, M., Leones, S.P.B.
Veröffentlicht in IEEE transactions on instrumentation and measurement
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