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Studies of Deep Levels in HgCdTe Grown on CdZnTe and Si Substrates
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
VolltextArtikel -
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Observation of CdS crystal surface by atomic force microscopy
Veröffentlicht in Journal of materials science letters
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Study of Deep Levels in Mesa-Type HgCdTe Device
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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