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Influence of Threading Dislocations on Lifetime of Gate Thermal Oxide
Veröffentlicht in Materials science forum
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Thermal stability of GaN on (1 1 1) Si substrate
Veröffentlicht in Journal of crystal growth
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Study of Mobility Limiting Mechanisms in (11-20) 4H-SiC NO Annealed MOSFETs
Veröffentlicht in Materials science forum
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