-
1
-
2
-
3
-
4
Electron tomography of embedded semiconductor quantum dot
Veröffentlicht in Applied physics letters
VolltextArtikel -
5
-
6
Multidirectional observation of an embedded quantum dot
Veröffentlicht in Applied physics letters
VolltextArtikel -
7
Advantages of Low-kV TEM in the Study of Beam Sensitive Materials
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
8
-
9
-
10
-
11
-
12
-
13
Toward Quantitative Bright Field TEM Imaging of Ultra Thin Samples
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
14
B12-P-12 In situ observation of electrocatalysts in multiple gas atmospheres on a cold FEG-TEM
Veröffentlicht in Microscopy
VolltextArtikel -
15
-
16
-
17
-
18
-
19
-
20