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Phase Engineering of 2D Tin Sulfides
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Understanding High Contact Resistance in M0S2 FETs using STEM-EELS
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Chemical vapor deposition of partially oxidized graphene
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Challenges of Oversimplifying Z-contrast in Atomic Resolution ADF-STEM
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Measuring the Atomic and Electronic Structure of Black Phosphorus with STEM
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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