Suchergebnisse - Wonseong Lee | OPAC THWS

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Improving the Endurance Characteristics Through Boron Implant at Active Edge in 1 G NAND Flash von Daewoong Kang, Sungnam Chang, Seunggun Seo, Yongwook Song, Hojin Yoon, Eunjung Lee, Dongwon Chang, Wonseong Lee, Byung-Gook Park, Jong Duk Lee, Il Han Park, Sangwoo Kang, Hyungcheol Shin

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Improving the Cell Characteristics Using SiN Liner at Active Edge in 4 Gbits NAND Flash Memories von Kang, Daewoong, Jang, Sungnam, Lee, Kyongjoo, Kim, Jinjoo, Chang, Dongwon, Kwon, Hyukje, Lee, Wonseong, Park, Il-Han, Kim, Jun Su, Lee, Jae Hong, Park, Byung-Gook, Lee, Jong Duk, Shin, Hyungcheol

Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics

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3

Dynamic Vpass ISPP scheme and optimized erase Vth control for high program inhibition in MLC NAND flash memories von Park, Ki-Tae, Kang, Myounggon, Hwang, Soonwook, Song, Youngsun, Lee, Jaewook, Joo, Hansung, Oh, Hyun-Sil, Kim, Jae-ho, Lee, Yeong-taek, Kim, Changhyun, Lee, Wonseong

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4

Improving the Cell Characteristics Using Low-k Gate Spacer in 1Gb NAND Flash Memory von Kang, D., Jang, S., Lee, K., Kim, J., Kwon, H., Lee, W., Park, B.G., Lee, J.D., Shin, H.

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5

Bounded Rationality in Central Bank Communication von Kim, Wonseong, Lee, Choong Lyol

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6

Bounded Rationality in Central Bank Communication von Kim, Wonseong, Lee, Choong Lyol

Veröffentlicht in arXiv.org

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